8 tuuman 200 mm:n 4H-N SiC-kiekkojen johtava nukke, tutkimuslaatuinen
Ainutlaatuisten fysikaalisten ja elektronisten ominaisuuksiensa ansiosta 200 mm:n piikarbidilevypuolijohdemateriaalia käytetään korkean suorituskyvyn, korkeiden lämpötilojen, säteilynkestävien ja korkeataajuisten elektronisten laitteiden valmistukseen. 8 tuuman piikarbidisubstraatin hinta laskee vähitellen teknologian kehittyessä ja kysynnän kasvaessa. Viimeaikaiset teknologiset kehitysaskeleet ovat johtaneet 200 mm:n piikarbidilevyjen tuotantomittakaavaiseen valmistukseen. Piikarbidilevypuolijohdemateriaalien tärkeimmät edut verrattuna pii- ja GaAs-kiekkoihin: 4H-piikarbidin sähkökentän voimakkuus lumivyörymäisen läpilyönnin aikana on yli kertaluokan suurempi kuin vastaavat arvot pii- ja GaAs-kiekoilla. Tämä johtaa merkittävään päällekkäisresistiivisyyden Ron laskuun. Alhainen päällekkäisresistiivisyys yhdistettynä korkeaan virrantiheyteen ja lämmönjohtavuuteen mahdollistaa erittäin pienten sirujen käytön teholaitteissa. Piikarbidin korkea lämmönjohtavuus vähentää sirun lämmönresistanssia. Piikarbidilevyihin perustuvien laitteiden elektroniset ominaisuudet ovat erittäin vakaat ajan kuluessa ja lämpötilassa, mikä varmistaa tuotteiden korkean luotettavuuden. Piikarbidi on erittäin kestävä kovalle säteilylle, mikä ei heikennä sirun elektronisia ominaisuuksia. Kiteen korkea käyttölämpötila (yli 6000 °C) mahdollistaa erittäin luotettavien laitteiden valmistamisen vaativiin käyttöolosuhteisiin ja erikoissovelluksiin. Tällä hetkellä pystymme toimittamaan pieniä eriä 200 mm:n piikarbidilevyjä tasaisesti ja jatkuvasti, ja meillä on jonkin verran varastoa.
Tekniset tiedot
Määrä | Tuote | Yksikkö | Tuotanto | Tutkimus | Nukke |
1. Parametrit | |||||
1.1 | polytyyppi | -- | 4H | 4H | 4H |
1.2 | pinnan suunta | ° | <11-20>4±0,5 | <11-20>4±0,5 | <11-20>4±0,5 |
2. Sähköinen parametri | |||||
2.1 | lisäaine | -- | n-tyypin typpi | n-tyypin typpi | n-tyypin typpi |
2.2 | resistiivisyys | ohmia ·cm | 0,015–0,025 | 0,01–0,03 | NA |
3. Mekaaninen parametri | |||||
3.1 | halkaisija | mm | 200±0,2 | 200±0,2 | 200±0,2 |
3.2 | paksuus | μm | 500±25 | 500±25 | 500±25 |
3.3 | Loven suunta | ° | [1–100]±5 | [1–100]±5 | [1–100]±5 |
3.4 | Loven syvyys | mm | 1–1,5 | 1–1,5 | 1–1,5 |
3.5 | Elinaika-arvo | μm | ≤5 (10 mm * 10 mm) | ≤5 (10 mm * 10 mm) | ≤10 (10 mm * 10 mm) |
3.6 | TTV | μm | ≤10 | ≤10 | ≤15 |
3.7 | Keula | μm | -25~25 | -45~45 | -65~65 |
3.8 | Loimi | μm | ≤30 | ≤50 | ≤70 |
3.9 | AFM | nm | Ra≤0.2 | Ra≤0.2 | Ra≤0.2 |
4. Rakenne | |||||
4.1 | mikroputkien tiheys | kpl/cm2 | ≤2 | ≤10 | ≤50 |
4.2 | metallipitoisuus | atomia/cm2 | ≤1E11 | ≤1E11 | NA |
4.3 | TSD | kpl/cm2 | ≤500 | ≤1000 | NA |
4.4 | BPD-oireyhtymä | kpl/cm2 | ≤2000 | ≤5000 | NA |
4.5 | TED | kpl/cm2 | ≤7000 | ≤10000 | NA |
5. Positiivinen ominaisuus | |||||
5.1 | etuosa | -- | Si | Si | Si |
5.2 | pinnan viimeistely | -- | Si-pinnan CMP | Si-pinnan CMP | Si-pinnan CMP |
5.3 | hiukkanen | ea/kiekko | ≤100 (koko ≥0,3 μm) | NA | NA |
5.4 | raaputa | ea/kiekko | ≤5, kokonaispituus ≤200 mm | NA | NA |
5.5 | Reuna sirut/kolhut/halkeamat/tahrat/likaantuminen | -- | Ei mitään | Ei mitään | NA |
5.6 | Polytyyppialueet | -- | Ei mitään | Pinta-ala ≤10 % | Pinta-ala ≤30 % |
5.7 | etumerkintä | -- | Ei mitään | Ei mitään | Ei mitään |
6. Selän laatu | |||||
6.1 | takapinta | -- | C-pinnan MP | C-pinnan MP | C-pinnan MP |
6.2 | raaputa | mm | NA | NA | NA |
6.3 | Takavikojen reuna sirut/painumat | -- | Ei mitään | Ei mitään | NA |
6.4 | Selän karheus | nm | Ra≤5 | Ra≤5 | Ra≤5 |
6.5 | Takamerkintä | -- | Lovi | Lovi | Lovi |
7. Reuna | |||||
7.1 | reuna | -- | Viiste | Viiste | Viiste |
8. Pakkaus | |||||
8.1 | pakkaus | -- | Epi-valmis alipaineella pakkaus | Epi-valmis alipaineella pakkaus | Epi-valmis alipaineella pakkaus |
8.2 | pakkaus | -- | Monikiekko kasettipakkaus | Monikiekko kasettipakkaus | Monikiekko kasettipakkaus |
Yksityiskohtainen kaavio



