8 tuuman piikiekko P/N-tyyppinen (100) 1-100 Ω nuken regeneroitu alusta

8 tuuman piikiekko P/N-tyyppi (100) 1-100 Ω nuken regeneroitu substraatti Suositeltu kuva

Lyhyt kuvaus:

Suuri valikoima kaksipuolisia kiillotettuja kiekkoja, kaikki kiekot, joiden halkaisija on 50 - 400 mm. Jos määrityksiäsi ei ole saatavilla luettelossamme, olemme solmineet pitkäaikaisia suhteita monien toimittajien kanssa, jotka pystyvät valmistamaan kiekkoja räätälöitynä mihin tahansa ainutlaatuiseen spesifikaatioon. Kaksipuolisia kiillotettuja kiekkoja voidaan käyttää piin, lasin ja muiden puolijohdeteollisuudessa yleisesti käytettyjen materiaalien käsittelyyn.

Lähetä meille sähköpostia

Tuotetiedot

Tuotetunnisteet

Vohvelilaatikon esittely

8 tuuman piikiekko on yleisesti käytetty piisubstraattimateriaali, ja sitä käytetään laajasti integroitujen piirien valmistusprosessissa. Tällaisia piikiekkoja käytetään yleisesti erityyppisten integroitujen piirien valmistukseen, mukaan lukien mikroprosessorit, muistisirut, anturit ja muut elektroniset laitteet. 8 tuuman piikiekkoja käytetään yleisesti suhteellisen suurikokoisten sirujen valmistukseen, ja niiden etuja ovat suurempi pinta-ala ja kyky tehdä enemmän siruja yhdelle piikiekolle, mikä lisää tuotannon tehokkuutta. 8 tuuman piikiekolla on myös hyvät mekaaniset ja kemialliset ominaisuudet, mikä soveltuu laajamittaiseen integroitujen piirien tuotantoon.

Tuotteen ominaisuudet

8" P/N tyyppi, kiillotettu piikiekko (25 kpl)

Suunta: 200

Resistiivisyys: 0,1 - 40 ohm•cm (Se voi vaihdella erästä toiseen)

Paksuus: 725+/-20um

Prime/Monitor/Test Grade

AINEISTON OMINAISUUDET

Parametri	Ominaista
Tyyppi/Dopantti	P, boori N, fosfori N, antimoni N, arseeni
Suuntaukset	<100>, <111> leikkaa suunnat asiakkaan määritysten mukaan
Happipitoisuus	10¹⁹ppmA Mukautetut toleranssit asiakkaan toiveiden mukaan
Hiilipitoisuus	< 0,6 ppmA

MEKAANISET OMINAISUUDET

Parametri	Prime	Monitori/ Testi A	Testata
Halkaisija	200±0,2mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Paksuus	725±20 µm (vakio)	725±25µm (vakio) 450±25µm 625±25 µm 1000±25 µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50 µm (vakio)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Keula	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Kääri	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Reunojen pyöristys	SEMI-STD
Merkintä	Vain ensisijainen SEMI-Flat, SEMI-STD Flats Jeida Flat, Notch

Parametri	Prime	Monitori/ Testi A	Testata
Etupuolen kriteerit
Pinnan kunto	Kemiallisesti mekaanisesti kiillotettu	Kemiallisesti mekaanisesti kiillotettu	Kemiallisesti mekaanisesti kiillotettu
Pinnan karheus	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Saastuminen Hiukkaset@ >0,3 um	= 20	= 20	= 30
Sumua, kuoppia Appelsiinin kuori	Ei mitään	Ei mitään	Ei mitään
Saha, Marks Juovat	Ei mitään	Ei mitään	Ei mitään
Takapuolen kriteerit
Halkeamia, murskaamisia, sahanjälkiä, tahroja	Ei mitään	Ei mitään	Ei mitään
Pinnan kunto	Kaustinen syövytetty